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杭州市西湖科学技術園区振華路200号
杭州大吉光電計器有限公司
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杭州市西湖科学技術園区振華路200号
GE−XP穀物品質画像分析システムは、画像自動分析システムを用いて穀物不純物及び不完全粒を測定する検出装置である。各種穀物の検査に適している。このシステムはコンピュータ技術と画像処理技術を一体化し、CCDカメラ、フィード機構、駆動機構とフィード機構及び画像自動収集システムを通じて、画像処理とBPニューラルネットワークの分類アルゴリズムを通じて、標準麦、破損麦と異種穀物のカビ変化食糧に対する自動識別を達成した。
主なパフォーマンス指標:
1.籾:未熟粒、虫食い粒、病斑粒、生芽粒、カビ変化粒。認識精度≧95%
2.小麦:破損粒、虫食い粒、病斑粒、芽芽粒、カビ粒。認識精度≧95%
3.トウモロコシ:破損粒、虫食い粒、病斑粒、芽芽粒、カビ粒、熱損傷粒。認識精度≧95%
認識精度≧95%