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北京中顕恒業計器計器有限公司
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材料研究用ZEISS Axio Imager 2金相顕微鏡

ネゴシエーション可能更新11/18
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メーカーの性質
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概要

繰り返し可能な結果振動のない動作条件を享受する良い結果を得るには、安定性は不可欠です

製品詳細

繰り返し可能な結果

振動のない動作条件を享受する

良い結果を得たければ、安定性は不可欠です。Axio Imager 2の安定した撮像条件を鑑賞し、特に高増幅倍率を使用したり、時間依存性の研究を行ったりする場合。Axio Imager 2の機動化により、常に一定の条件下で動作しながら高速かつ繰り返し可能な結果を実現することができる。用于材料研究的ZEISS Axio Imager 2 金相显微镜


材料研究に使用される蔡司Axio Imager 2


自動材料分析のためのオープン顕微鏡システム

高度な材料研究を行う場合は、光学顕微鏡ワークフローに使いやすさを導入してください。ZEISS Axio Imager 2を使用して材料の正確で再現性の高い結果を得ることで、大きなメリットが得られます。アプリケーションに適したシステムを選択します。粒子分析、共焦点、関連顕微鏡などの専用ソリューションで機器を拡張します。

  • 繰り返し可能な結果
  • モジュラー設計
  • モジュラー設計

    柔軟性の向上

    学術研究においても工業研究においても、材料顕微鏡はさまざまな挑戦に直面している。Axio Imager 2を使用すると、これらの課題に対応して勝つことができます。アプリケーション固有のコンポーネントを接続し、例えば粒子解析を実行します。非金属介在物(NMI)、液晶、または半導体ベースのMEMを研究する。共焦点または関連顕微鏡専用ソリューションにより機器を拡張します。

    用于材料研究的ZEISS Axio Imager 2 金相显微镜

    こうこうがくせいのう

    優れたコントラストと解像度を実現

    • さまざまな比較技術を使用して、金属、複合材料、液晶などの一連の材料を検査します。
    • 反射光を用いて、明視野、暗場、微分干渉ライニング(DIC)、円微分干渉ライニング(C−DIC)、偏光または蛍光下でサンプルを観察した。
    • 透過光を用いて、明場、暗場、微分干渉ライニング(DIC)、偏光または円偏光の下でサンプルを検査した。コントラストマネージャは、繰り返し可能な照明設定を確認します。